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首頁 > 產(chǎn)品中心 > > 探針臺 > CL-4 | 4~8CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺

CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺

簡要描述：CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺CL系列探針臺可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動 ；

可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復(fù)應(yīng)用

  • 產(chǎn)品型號：CL-4 | 4~8
  • 廠商性質(zhì)：代理商
  • 更新時(shí)間：2024-01-27
  • 訪  問  量：1783

詳細(xì)介紹

品牌其他品牌應(yīng)用領(lǐng)域地礦,能源,電子,汽車,電氣

 

 

CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺特點(diǎn) / 應(yīng)用


 

 滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等.


 

 大可用于8英寸以內(nèi)樣品測試


 

 同軸絲杠傳動結(jié)構(gòu)，線性移動


 

兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動


 

可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復(fù)應(yīng)用


 

CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺

臺體規(guī)格：

尺寸

4英寸/6英寸/8英寸

水平旋轉(zhuǎn)

可360度旋轉(zhuǎn)，可微調(diào)15度，精度0.1度，帶角度鎖死裝置

X-Y移動行程

4英寸*4英寸/6英寸*6英寸

X-Y移動精度

10微米/1微米

樣品臺Z軸調(diào)節(jié)

可升降10mm

樣品固定

真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環(huán)

針座平臺

U型針座平臺，多可放置6個(gè)探針座

背電極測試

樣品臺電學(xué)獨(dú)立懸空，4mm插孔可接背電極

外形尺寸

400mm長*400mm寬*600mm高/580mm長*480mm寬*600mm高

重量

約40千克/60千克

 

 

光學(xué)系統(tǒng)：

 

顯微鏡類型

單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡

放大倍率

16X-200X/20X-4000X

移動行程

X-Y軸行程2英寸*2英寸，Z軸行程50.8mm

光源

外置LED環(huán)形光源/同軸光源

CCD

200萬像素/500萬像素/1200萬像素

 

 

探針座

 

X-Y-Z移動行程

12mm*12mm*12mm

移動精度

10微米/2微米/0.7微米/0.5微米

吸附方式

磁力吸附/真空吸附

線纜

同軸線/三軸線

漏電精度

10pA/100fA/10fA

固定探針

彈簧固定/管狀固定

接頭類型

BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子

針尖直徑

0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米

針尖材質(zhì)

鎢鋼/鈹銅

 

 

 

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