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  • PM-750動(dòng)力及電力儲(chǔ)能電池測(cè)試及模擬系統(tǒng)
    PM-750動(dòng)力及電力儲(chǔ)能電池測(cè)試及模擬系統(tǒng)

    PM-750 動(dòng)力及電力儲(chǔ)能電池測(cè)試及模擬系統(tǒng)應(yīng)用于各種新能源電池包、模組、單體的性能壽命容量,工況等測(cè)試,動(dòng)力電池(l鋰電池、鎳氫、鉛酸、超級(jí)電容、燃料電池等)標(biāo)準(zhǔn)及工況測(cè)試,儲(chǔ)能電池(鋰電池、鎳氫、鉛酸、鈉硫、液流電池等 )標(biāo)準(zhǔn)及工況測(cè)試,可定制和編程以模擬電池的電氣特性,作為輸出恒電壓源以及帶數(shù)學(xué)模型的恒壓源用于電機(jī)測(cè)試平臺(tái)。

    更新日期:2024-01-28型號(hào):PM-750訪問(wèn)量:1611
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  • SS7081-50BMS電池芯仿真模擬系統(tǒng)
    SS7081-50BMS電池芯仿真模擬系統(tǒng)

    BMS電池芯仿真模擬系統(tǒng)SS7081-50是一款12路電池電池片電壓發(fā)生器,可提供電源,電子負(fù)載和DMM功能集成在一個(gè)軟件包中。該系統(tǒng)的簡(jiǎn)單結(jié)構(gòu)使構(gòu)建BMS功能驗(yàn)證環(huán)境比以往任何時(shí)候都更安全、更經(jīng)濟(jì)、更有效率,輕松、安全地構(gòu)建高度精確的BMS*驗(yàn)證環(huán)境(*BMS:電池管理系統(tǒng)),作為電壓發(fā)生器或模擬電池代替實(shí)際電池和電源,建立高效的測(cè)試環(huán)境。

    更新日期:2024-01-28型號(hào):SS7081-50訪問(wèn)量:1298
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  • 遠(yuǎn)方BBMS-4000空間透反射分布測(cè)試系統(tǒng)
    遠(yuǎn)方BBMS-4000空間透反射分布測(cè)試系統(tǒng)

    遠(yuǎn)方BBMS-4000空間透反射分布測(cè)試系統(tǒng) 可分析測(cè)量材料表面的反射、透射特性,可測(cè)參數(shù)包括材料的雙向透射分布(BTDF)、雙向反射分布(BRDF)、反射比分布、透射比分布、總反射(TIR)、總散射(TIS)等,特別適合手機(jī)屏、雷達(dá)視窗、光學(xué)膜材、特種鍍層、涂層、紙張、玻璃、異形鋁材、塑膠等材料表面光學(xué)特性的定量分析。系統(tǒng)可以可以導(dǎo)出標(biāo)準(zhǔn)BSDF文件至Tracepro、Zemax等

    更新日期:2024-01-28型號(hào):訪問(wèn)量:1691
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  • 遠(yuǎn)方BBMS-3000反射透射空間分布測(cè)試系統(tǒng)
    遠(yuǎn)方BBMS-3000反射透射空間分布測(cè)試系統(tǒng)

    遠(yuǎn)方BBMS-3000反射透射空間分布測(cè)試系統(tǒng) BBMS-3000雙向反射透射空間分布測(cè)量系統(tǒng)可分析測(cè)量材料的反射、透射空間分布特性??蓽y(cè)參數(shù)包括材料的雙向透射分布(BTDF)、雙向反射分布(BRDF)、反射比分布、透射比分布、總反射(TIR)、總散射(TIS)等,系統(tǒng)可以導(dǎo)出標(biāo)準(zhǔn)文件至lighttools、Tracepro、Zemax、Speos等光學(xué)軟件中,用于輔助光學(xué)材料或系統(tǒng)的模擬、

    更新日期:2024-01-28型號(hào):訪問(wèn)量:1634
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  • 聯(lián)訊eDH3101高溫高濕老化系統(tǒng)
    聯(lián)訊eDH3101高溫高濕老化系統(tǒng)

    聯(lián)訊eDH3101高溫高濕老化系統(tǒng)是一體化高溫高濕雙85老化系統(tǒng),一個(gè)針對(duì)第三代半導(dǎo)體芯片可靠性測(cè)試的完整的雙溫高濕雙85 Turn-key解決方案。 聯(lián)訊儀器eDH3101主要適用于GaAs和GaN射頻器件和功率器件的高溫高濕試驗(yàn)。該系統(tǒng)已經(jīng)在激光器芯片行業(yè)和第三代半導(dǎo)體兩大行業(yè)通過(guò)大量認(rèn)證,是一個(gè)可靠穩(wěn)定的系統(tǒng)。

    更新日期:2024-01-28型號(hào):訪問(wèn)量:1187
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  • 聯(lián)訊CT8201激光器芯片測(cè)試系統(tǒng)
    聯(lián)訊CT8201激光器芯片測(cè)試系統(tǒng)

    聯(lián)訊CT8201激光器芯片測(cè)試系統(tǒng)聯(lián)訊儀器 CT8201 激光器芯片測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)激光二極管LIV、光譜及近場(chǎng)/遠(yuǎn)場(chǎng)參數(shù)測(cè)試需求開發(fā)的。

    更新日期:2024-01-28型號(hào):訪問(wèn)量:1361
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  • 聯(lián)訊TO6201 TO高溫測(cè)試系統(tǒng)
    聯(lián)訊TO6201 TO高溫測(cè)試系統(tǒng)

    聯(lián)訊TO6201 TO高溫測(cè)試系統(tǒng)TO6201-LIV是聯(lián)訊儀器提供的測(cè)試TO LIV,光譜測(cè)試機(jī)臺(tái),支持標(biāo)準(zhǔn)8x8老化夾具,主要功能和參數(shù)指標(biāo)包括: ? 支持TO的LIV掃描相關(guān)參數(shù)計(jì)算. ? 支持中心波長(zhǎng)和SMSR測(cè)試,是否跳模判斷(多電流點(diǎn)光譜測(cè)試法)

    更新日期:2024-01-28型號(hào):訪問(wèn)量:1233
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  • 聯(lián)訊TO6200低溫測(cè)試系統(tǒng)
    聯(lián)訊TO6200低溫測(cè)試系統(tǒng)

    聯(lián)訊TO6200低溫測(cè)試系統(tǒng)聯(lián)訊儀器提供的測(cè)試設(shè)備需要支持如下TO 產(chǎn)品的LIV 與光譜測(cè)試,詳細(xì)功能包括: - 支持TO 的LIV 掃描相關(guān)參數(shù)計(jì)算和算法選擇 - 支持中心波長(zhǎng)和SMSR 測(cè)試,是否跳模判斷(多電流點(diǎn)光譜測(cè)試法). - 支持LIV 和光譜并行測(cè)試

    更新日期:2024-01-28型號(hào):訪問(wèn)量:1121
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